Дмитрий Крутогин

 
»
»
Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов
Дмитрий Крутогин, Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов

Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов

Аннотация.
Материал практикума соответствует учебному плану курса Основы технологии электронной компонентной базы, в лабораторном практикуме излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля их электрофизических и структурных параметров.

Автор: Дмитрий Крутогин.
Жанр книги: Наука, обучение.
Объем: 43 стр.
Возрастное ограничение: 0+
Общее кол-во страниц: 43
Правообладатель: МИСиС

 
Скачать книгу в форматах fb2, epub, ios.epub, pdf, txt.

Скачать файл...
  Читать эту книгу сначала читать книгу онлайн
Продолжить чтение книги с последнего места продолжить чтение online  

Отзывы о книге, мнения





Добавить отзыв, комментарий.

   
Библиотека aunua.ru